Microscopie électronique à balayage et microanalyses

Ecole d'été de Saint-Martin d'Hères, 2006 publié par Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microanalyses

François Brisset, Monique Repoux, GN-MEBA

892 pages, parution le 15/01/2009

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Résumé

La microscopie électronique à balayage et les microanalyses associées sont impliquées dans des domaines extrêmement variés, aussi bien dans les milieux académiques que dans les milieux industriels. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôle sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc.

Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA).

Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine.

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Ecole d'été sur la microanalyse et la microscopie électronique à balayage

Sommaire

Les interactions électron-matière
Le rayonnement X caractéristique, le rayonnement de freinage
Les canons à électrons en MEB
Les éléments de l'optique électronique
Les techniques du vide
Les détecteurs utilisés dans le MEB
La formation et l'optimisation de l'image en MEB
Guide d'utilisation pratique du MEB
La microscopie à pression contrôlée
La microscopie à pression contrôlée - Applications
Le spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS)
L'analyse EDS
Les cartographies X EDS
Les aspects technologiques de la spectrométrie à dispersion de longueur d'onde (WDS)
Les spectrométries EDS et WDS : traitement des spectres
Les méthodes de quantification en microanalyse X
La microanalyse quantitative en WDS des éléments très légers
Les statistiques : précision et limites de détection en microanalyse
L'analyse d'échantillons stratifiés
La cristallographie appliquée à l'EBSD
La cristallographie appliquée à l'EBSD
L'EBSD : historique, principe et applications
L'analyse EBSD
La simulation de Monte Carlo
Les échantillons isolants en MEB et en microanalyse X
Les matériaux isolants
La métallisation
Les échantillons biologiques - Aperçu des techniques de préparation
Les échantillons biologiques
Reconstruction 3D de surfaces rugueuses
Imagerie 3D
Image MEB : du traitement numérique à l'analyse quantitative
Le MEB STEM
Les essais mécaniques in situ
La maintenance et le contrôle du MEB et de la microanalyse X
L'assurance qualité et la normalisation
La place du MEB dans les techniques expérimentales
Une introduction au FIB
Une introduction à la MET
La microanalyse X sur échantillons minces
Une introduction à la cathodoluminescence
Une introduction à la spectrométrie Raman

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Caractéristiques techniques

	PAPIER
Éditeur(s)	EDP Sciences
Auteur(s)	François Brisset, Monique Repoux, GN-MEBA
Parution	15/01/2009
Nb. de pages	892
Format	17 x 25
Couverture	Broché
Poids	1790g
Intérieur	Quadri
EAN13	9782759800827
ISBN13	978-2-7598-0082-7