Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins - René... - Librairie Eyrolles
Tous nos rayons

Déjà client ? Identifiez-vous

Mot de passe oublié ?

Nouveau client ?

CRÉER VOTRE COMPTE
Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins
Ajouter à une liste

Librairie Eyrolles - Paris 5e
Indisponible

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins

Instrumentation et étude de la microstructure

René Guinebretière

362 pages, parution le 08/09/2006 (2eme édition)

Résumé

Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux.

Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins.

Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées.

L'auteur - René Guinebretière

Professeur à l'ENSCI à Limoges, René Guinebretière, enseigne la diffraction des rayons X et la physique des matériaux.

Autres livres de René Guinebretière

Sommaire

  • Introduction historique : découverte des rayons X et premiers travaux de radiocristallographie
  • Éléments théoriques de base, instrumentation et exploitation usuelle des résultats
    • Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
    • Instrumentation en diffraction des rayons X
    • Traitement des données, extraction de l'information
    • Exploitation des résultats
  • Analyse microstructurale
    • Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts.
    • Étude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire.
    • Étude microstructurale de couches minces
Voir tout
Replier

Caractéristiques techniques

  PAPIER
Éditeur(s) Hermès - Lavoisier
Auteur(s) René Guinebretière
Parution 08/09/2006
Édition  2eme édition
Nb. de pages 362
Format 16 x 24
Couverture Broché
Poids 555g
Intérieur Noir et Blanc
EAN13 9782746212381
ISBN13 978-2-7462-1238-1

Avantages Eyrolles.com

Livraison à partir de 0,01 en France métropolitaine
Paiement en ligne SÉCURISÉ
Livraison dans le monde
Retour sous 15 jours
+ d'un million et demi de livres disponibles
satisfait ou remboursé
Satisfait ou remboursé
Paiement sécurisé
modes de paiement
Paiement à l'expédition
partout dans le monde
Livraison partout dans le monde
Service clients sav@commande.eyrolles.com
librairie française
Librairie française depuis 1925
Recevez nos newsletters
Vous serez régulièrement informé(e) de toutes nos actualités.
Inscription