Guide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission - Tome I

Méthodologie

Jeanne Ayache, Luc Beaunier, Gabriel Ehret, Danièle Laub - Collection Intégrations

270 pages, parution le 10/05/2007

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Résumé

Cet ouvrage s'adresse à une large communauté scientifique qui utilise la microscopie électronique en transmission (TEM) pour analyser la structure de tout type de matériaux de la Physique à la Biologie. Il est constitué de deux livres : Tome I "Méthodologie" et Tome II "Techniques".

Le tome I propose la méthodologie nécessaire pour aborder la préparation d'un échantillon pour la microscopie. Il apporte en particulier la démarche à suivre qui tient compte du problème matériau posé du type de matériau, de sa structure et de ses propriétés, pour choisir la meilleur technique. Il apporte les outils pour la préparation et l'observation des échantillons. Il comportera des renseignements généraux sur les propriétés physiques, la classification des différents types de matériaux, de microstructures et sur les mécanismes physiques et chimiques impliqués dans les différents types de techniques. Il permet, en particulier, d'identifier les artéfacts observés au microscope qui sont créés par les effets des différentes étapes de préparations (techniques ioniques, mécaniques ou chimiques). Il présente les différents types d'analyses et les modes d'observation en TEM et aussi des analyses comparatives entre les techniques de préparation pour différents types de matériaux : des résultats comparatifs obtenus sur un même matériau, préparé par différentes techniques, permettent de comprendre les choix amenant à la décision finale. Enfin, il discute des possibilités de combiner plusieurs techniques pour résoudre des problèmes complexes de préparation et obtenir des lames minces analysables en TEM.

Les deux tomes sont liés et complémentaires avec le site Internet interactif.

L'auteur - Jeanne Ayache

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L'auteur - Gabriel Ehret

Gabriel Ehret est journaliste spécialisé en architecture, il est notamment auteur pour les revues Le Moniteur, Archiscopie, AMC. Il est également auteur de nombreux ouvrages chez Bookstorming.

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Sommaire

Introduction aux matériaux
Les différents modes d'observations en microscopie électronique (SEM, TEM, STEM)
Problématique matériau et analyses en TEM et TEM/STEM
Mécanismes physiques et chimiques des techniques de préparation
Artéfacts en microscopie électronique e transmission
Choix de la technique de préparation en fonction de la problématique matériau et des analyses TEM
Comparaisons entre techniques

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Caractéristiques techniques

	PAPIER
Éditeur(s)	Publications de l'Université de Saint-Etienne
Auteur(s)	Jeanne Ayache, Luc Beaunier, Gabriel Ehret, Danièle Laub
Collection	Intégrations
Parution	10/05/2007
Nb. de pages	270
Format	16 x 24
Couverture	Broché
Poids	480g
Intérieur	Noir et Blanc
EAN13	9782862724416
ISBN13	978-2-86272-441-6