DEFAUTS A L ECHELLE NANOMETRIQUE EN LUMIERE POLARISEE - VOL 2

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami - Collection Génie mécanique et mécanique des solides

290 pages, parution le 22/07/2016

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Résumé

La série Fiabilité des systèmes multiphysiques s'intéresse aux avancées de la recherche et de l'industrie appliquées aux domaines de l'optimisation, de la fiabilité et de la prise en compte des incertitudes des systèmes. Ce couplage est à la base de la compétitivité des entreprises dans les secteurs de l'automobile, de l'aéronautique, du génie civil ou de la défense.Par son approche interdisciplinaire, la mécatronique permet l'intégration en synergie de la mécanique, de l'électronique, de l'automatique et de l'informatique dans la conception et la fabrication d'un produit en vue d'optimiser sa fonctionnalité. Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polariséedéveloppe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière. Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.

L'auteur - Abdelkhalak El Hami

Abdelkhalak El Hami, professeur à l'INSA de Rouen, est directeur du département de mécanique et responsable de la chaire de mécanique du Conservatoire national des arts et métiers en Normandie. Il est spécialiste de la résolution et de la fiabilité des systèmes multiphysiques.

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Caractéristiques techniques

	PAPIER
Éditeur(s)	Iste
Auteur(s)	Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami
Collection	Génie mécanique et mécanique des solides
Parution	22/07/2016
Nb. de pages	290
Format	16 x 24
Couverture	Broché
Poids	280g
EAN13	9781784051655