
Nanotechnology and Nanoelectronics
Materials, Devices, Measurement Techniques
Résumé
This book provides a concise and didactically structured presentation of nanotechnology as matters stand. Both students and engineers can gain valuable insights into the historical development, production, and characterization procedures of structures in the nanometer range, their electrical applications, measuring procedures for the determination of nanodefect, nanolayer, and nanoparticle characteristics, and the major techniques of preparation in nanotechnology. Based on known facts, an evaluation of nanotechnology, its further development, and its future prospects are attempted.
Written for:
Engineers and natural scientists interested in nanotechnology
L'auteur - W.R. Fahrner
Editor
Sommaire
- Historic Development
- Quantum Mechanical Aspects
- Nanodefects
- Nanolayers
- Nanoparticles
- Selected Solid States with Nanocrystalline Structures
- Nanostructuring
- Extension of Conventional Devices by Nanotechniques
- Innovative Electronic Devices based on Nanostructures
Caractéristiques techniques
PAPIER | |
Éditeur(s) | Springer |
Auteur(s) | W.R. Fahrner |
Parution | 01/10/2004 |
Nb. de pages | 270 |
Format | 17 x 24 |
Couverture | Relié |
Poids | 555g |
Intérieur | Noir et Blanc |
EAN13 | 9783540224525 |
ISBN13 | 978-3-540-22452-5 |
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