Les Design Patterns en Java

Les 23 modèles de conception fondamentaux - L'expertise ultime en conception Java

Steven John Metsker, William C. Wake - Collection Référence

434 pages, parution le 23/08/2006

Ajouter à une liste

Indisponible

Résumé

Par son approche pratique fondée sur de nombreux exemples d'application, Design Pat-terns en Java vous amène à une compréhension approfondie des patterns de conception, condition sine qua non pour tirer le meilleur parti de leur puissance dans le développement d'applications en Java. Ce document révolutionnaire introduit les fonctionnalités les plus récentes de Java et les meilleures pratiques aux 23 patterns.

Forts de leur grande expérience en tant qu'instructeurs et programmeurs Java, Steve Metsker et William Wake vous éclaireront sur chaque pattern, au moyen de programmes Java réels, de diagrammes UML et d'exercices clairs et pertinents. Vous passerez rapidement de la théorie à l'application en apprenant comment écrire un meilleur code ou restructurer du code existant pour le rationaliser, le rendre plus performant et plus facile à maintenir.

Si vous êtes un programmeur Java désireux de gagner du temps grâce à l'écriture d'un code plus efficace, les explications lumineuses de cet ouvrage, étayées de nombreux exemples, conseils et techniques vous aideront à y parvenir. Vous maîtriserez la puissance des patterns et améliorerez vos programmes, tant en matière de conception que d'écriture et de maintenance du code.

Tout le code source est disponible au téléchargement sur le site www.oozinoz.com.

L'auteur - Steven John Metsker

Steven John Metsker is a researcher and author who explores and writes about ways to expand the abilities of developers. Steve's published work includes articles that explain how to maintain relational integrity in object models, how to solve logic puzzles in Java, and how the conception of "object" differs between Plato and the OO languages.

L'auteur - William C. Wake

has been programming for more than twenty years at companies including Capital One Financial, MCI WorldCom, VTLS Inc., and Digital Equipment Corporation. He is a regular attendee of OOPSLA, and co-author (with Stephen Drye) of Java Foundation Classes: Swing Reference (Manning Publications, 1999). Extreme Programming Explored grew out of the questions he had while taking the first XP Immersion course

Sommaire

Préface
Introduction
Patterns d'interface
Patterns de responsabilité
Patterns de construction
Patterns d'opération
Patterns d'extension
Annexes
Glossaire
Bibliographie
Index

Voir tout

Replier

Avis des lecteurs

1 / 5

Note basée sur 2 commentaires (voir tous les commentaires)

Ajouter votre commentaire

Commentaire de Laurent P
publié le 21/03/2009 Acheteur vérifié

Livre à trous

L'idée de départ est plutôt bonne : tirer partie des design patterns dans un cas concret (une usine de feux d'artifice). Malheureusement à force de vouloir proposer des exercices les auteurs proposent un livre à trous. Un exemple : le chapitre Factory Method ne contient quasiment pas de code, pas d'explication et des schémas UML à compléter. Résultat : si on ne connaît pas déjà le pattern il est impossible de comprendre comment le mettre en oeuvre. Bref un livre qui ne peut servir ni de référence ni de cours. Ce n'est pas non plus pour autant un livre d'exercices.

Commentaire de vinzo
publié le 20/09/2006 Acheteur vérifié

Un ouvrage imbitable...

La structure binaire : un commentaire, une question, un commentaire, une question... il faut aimer. Sauf qu'ici, à moins de connaître déjà les patterns, il n'est pas toujours facile d'y répondre (les réponses sont en fin d'ouvrage). Cela d'autant plus que le code en exemple fait référence à des classes qu'il faut télécharger... sinon il faut les deviner. Reste que cela pourrait être un bon support de cours... s'il était bien traduit. Alors que l'on manipule des abstractions qui nécessiteraient une vraie traduction en français, ici nous avons une traduction pratiquement mot à mot, pleine de répétitions... Cet ouvrage est beaucoup trop émietté, et très mal traduit. À déconseiller.

Caractéristiques techniques

	PAPIER
Éditeur(s)	Campus Press
Auteur(s)	Steven John Metsker, William C. Wake
Collection	Référence
Parution	23/08/2006
Nb. de pages	434
Format	18,5 x 23
Couverture	Broché
Poids	897g
Intérieur	Noir et Blanc
EAN13	9782744020995
ISBN13	978-2-7440-2099-5