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Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins

Librairie Eyrolles - Paris 5e
Indisponible

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins

Instrumentation et étude de la microstructure

362 pages, parution le 18/10/2006 (2eme édition)

Résumé

Cet ouvrage est la deuxième édition d'une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de la plupart de ses applications en science des matériaux.

Après une introduction historique décrivant les étapes de la découverte de la diffraction des rayons X depuis la découverte des rayons X eux-mêmes, l'ouvrage présente, dans sa première partie, la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, les instruments de mesure utilisés en diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins, puis les méthodes modernes de traitement des diagrammes réalisés, et enfin, les principales applications conventionnelles de la diffraction sur échantillons polycristallins.

Dans une deuxième partie, ce livre traite de l'étude quantitative par diffraction des rayons X de la microstructure des matériaux nanostructurés. Il analyse les fondements théoriques de ce type d'étude, la caractérisation des matériaux polycristallins d'orientation aléatoire et enfin, l'étude des couches minces épitaxiées.

L'auteur René Guinebretière

Professeur à l'ENSCI à Limoges, René Guinebretière, enseigne la diffraction des rayons X et la physique des matériaux.

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Sommaire

  • Introduction historique : découverte des rayons X et premiers travaux de radiocristallographie
  • Éléments théoriques de base, instrumentation et exploitation usuelle des résultats
    • Théorie cinématique et géométrique de la diffraction des rayons X
    • Instrumentation en diffraction des rayons X
    • Traitement des données, extraction de l'information
    • Exploitation des résultats
  • Analyse microstructurale
    • Diffusion et diffraction par des cristaux contenant des défauts.
    • Étude microstructurale d'échantillons polycristallins d'orientation aléatoire.
    • Étude microstructurale de couches minces
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Caractéristiques techniques du livre "Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins"

  PAPIER
Éditeur(s) Hermès - Lavoisier
Auteur(s) René Guinebretière
Parution 18/10/2006
Édition  2eme édition
Nb. de pages 362
Format 16 x 24
Couverture Broché
Poids 555g
Intérieur Noir et Blanc
EAN13 9782746212381
ISBN13 978-2-7462-1238-1

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