Xiaoqing Wen
Livres de Xiaoqing Wen
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VLSI Test Principles and Architectures
Design for Testability
Auteurs : Laung-Terng Wang, Xiaoqing Wen, Cheng-Wen Wu
Éditeur : Morgan Kaufmann
Date de parution : 11/09/2006
Indisponible
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Sciences
Techniques
