
11e congrès international de métrologie - toulon, 20-23 octobre 2003
Congres International De Metrologie
Caractéristiques techniques
PAPIER | |
Éditeur(s) | CETIM |
Auteur(s) | Congres International De Metrologie |
Parution | 11/04/2005 |
Nb. de pages | 26 |
Format | 21 x 30 |
Couverture | Broché |
Poids | 90g |
EAN13 | 9782854006360 |
Avantages Eyrolles.com
Nos clients ont également acheté
Consultez aussi
- Les meilleures ventes en Graphisme & Photo
- Les meilleures ventes en Informatique
- Les meilleures ventes en Construction
- Les meilleures ventes en Entreprise & Droit
- Les meilleures ventes en Sciences
- Les meilleures ventes en Littérature
- Les meilleures ventes en Arts & Loisirs
- Les meilleures ventes en Vie pratique
- Les meilleures ventes en Voyage et Tourisme
- Les meilleures ventes en BD et Jeunesse