Résumé
Cet ouvrage collectif présente un état des lieux des différents aspects de l'étude de la matière condensée au moyen de l'analyse de son interaction avec les rayons X. Il fait suite à la tenue à Limoges en février 2006, du colloque Rayons X et Matière - RX 2006 et rassemble les contributions de spécialistes invités. Physiciens, chimistes, mécaniciens font une revue à caractère pédagogique de leur discipline, autour de problèmes liés à l'utilisation des rayons X. Les domaines scientifiques étudiés concernent la diffusion ou la diffraction des rayons X. Ils portent sur l'analyse quantitative par diffraction des rayons X, l'ordre-désordre et la diffusion diffuse, l'instrumentation, la mécanique des matériaux, l'analyse microstructurale par diffraction.
L'auteur - Philippe Goudeau
Philippe Goudeau est directeur de recherche au CNRS au sein du département physique et mécanique des matériaux de l'institut Pprime de l'université de Poitiers.
Autres livres de Philippe Goudeau
L'auteur - René Guinebretière
Professeur à l'ENSCI à Limoges, René Guinebretière, enseigne la diffraction des rayons X et la physique des matériaux.
Autres livres de René Guinebretière
Sommaire
- Systèmes optiques pour la définition du faisceau
- Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structural des matériaux
- La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues
- Diffraction des rayons X et analyse quantitatives des phases. Application in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais
- Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ?
- Évaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X
- Étude des microstructures par diffusion de rayonnements
- Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations
- Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères
- Étude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaites
Caractéristiques techniques
| PAPIER | NUMERIQUE | |
| Éditeur(s) | Hermès - Lavoisier | |
| Auteur(s) | Philippe Goudeau, René Guinebretière | |
| Parution | 25/10/2006 | 01/06/2008 |
| Nb. de pages | 300 | 298 |
| Format | 15,5 x 23,5 | - |
| Couverture | Broché | - |
| Poids | 470g | - |
| Intérieur | Noir et Blanc | - |
| Contenu | - |
PDF |
| EAN13 | 9782746213852 |
9782746242272 |
| ISBN13 | 978-2-7462-1385-2 | - |
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