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Caractérisation microstructurale des matériaux

Librairie Eyrolles - Paris 5e
Indisponible

Caractérisation microstructurale des matériaux

Caractérisation microstructurale des matériaux

Analyse par rayonnements X et électronique

- Collection Metis Lyon Tech

580 pages, parution le 01/09/2011

Résumé

Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural.

Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

L'auteur Claude Esnouf

Claude Esnouf est professeur émérite à l'Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSAL). Ingénieur et licencié en sciences physiques, il a enseigné au premier cycle et au département de spécialité Sciences et Génie de Matériaux de l'INSAL l'électromagnétisme, l'optique ondulatoire et la caractérisation des matériaux. Docteur de l'Université de Lyon, il a mené de nombreuses recherches en science des matériaux par le biais de l'analyse structurale. Il s'est spécialisé dans les techniques de microscopie électronique qu'il a largement contribué à développer.

Autres livres de Claude Esnouf

Sommaire

  • Éléments de cristallographie
  • Diffraction par les cristaux
  • Radiocristallographie X
  • Diffraction par les rayonnements corpusculaires
  • Imagerie électronique
  • Spectroscopies x et électronique
  • Réseaux et groupes à deux dimensions
  • Transformée de Fourier, produit de convolution et fonction de Patterson
  • Coefficient de Debye-Waller
  • Rappels sur la structure électronique d'un atome
  • Optique diffractive : réseaux zonés et lentille de Fresnel
  • Facteur de forme et géométrie du cristal
  • Relation facteur de diffusion électronique et potentiel
  • Facteur de diffusion électronique dans le modèle de Wentzel-Yukawa
  • Correcteurs d'aberrations
  • Compléments à l'imagerie de haute résolution
  • Règle d'or de Fermi et sections efficaces de pertes
  • Exercices et leurs solutions liste des symboles
  • Liste des acronymes
  • Définitions et valeurs de quelques grandeurs physiques
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Caractéristiques techniques du livre "Caractérisation microstructurale des matériaux"

  PAPIER
Éditeur(s) Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (PPUR)
Auteur(s) Claude Esnouf
Collection Metis Lyon Tech
Parution 01/09/2011
Nb. de pages 580
Format 16 x 24
Couverture Broché
Poids 1190g
Intérieur Noir et Blanc
EAN13 9782880748845
ISBN13 978-2-88074-884-5

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